Beschreibung

Schichtdickenmessgerät Leptoskop® Ausführung: Vielseitiges Schichtdickenmessgerät mit externer Sonde, präziser Messtechnik und der Möglichkeit zur schnellen Vor-Ort-Erweiterung über Freischaltcodes (Softwaremodule „Statistik“ und „Datenspeicher“). Großes, hinterleuchtetes Grafikdisplay (48 x 24 mm), große Auswahl an Sonden. Messbereich 0–20000 µm (sondenabhängig), 10 Sprachen wählbar, USB-/RS232-Schnittstelle und Gummischutzrahmen. Batterielebensdauer ca. 100 Stunden. Lieferung mit Fe-Sonde bis 5000 µm, Kontrollkörper, Kalibrierfoliensatz, Betriebsanleitung, Abnahmeprotokoll/Qualitätsprüfzertifikat, Messprotokoll, Fachliteratur und 2 Mignon-Batterien AA/LR06, 1,5 V, im Kunststoffkoffer. Messunsicherheit (nach Kalibrierung): Schichtdicke < 100 µm: 1 % des Messwerts ±1 µm Schichtdicke > 100 µm: 1–3 % des Messwerts ±1 µm Schichtdicke > 1000 µm: 3–5 % des Messwerts ±10 µm Schichtdicke > 10000 µm: 5 % des Messwerts ±100 µm Anwendung: Ermittelt die Dicke nicht magnetischer Schichten auf magnetisierbarem Substrat (Fe, nach DIN EN ISO 2178) und die Dicke nicht leitender Schichten auf leitfähigem Grundmaterial nach dem Wirbelstromprinzip (NFe, nach DIN EN ISO 2360).