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Laagdiktemeter TE 1250-0.1 voor non- fer
ro- en ferro- magnetische ondergronden

Laagdiktemeter TE 1250-0.1 voor non- fer
ro- en ferro- magnetische ondergronden

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Item no 3001309.0100
EAN-code 4045761140134
Katalognummer 4940 1250, 49401250, P49401250

Beschrijving

Schichtdickenmessgrät TE 1250-0.1FN Ausführung: Handliches Schichtdickenmessgerät mit Datenausgang RS232. Lieferung mit Nullplatte, Justierfolien und 4 Micro-Batterien AAA/LR03, 1,5 V, im Tragekoffer. Messbereich: Ablesung: • 0 bis 100 µm 0,1 µm • 100 bis 1250 µm 1 µm Messunsicherheit (nach Kalibrierung): • Standard: 3 % oder ±2,5 µm • Offset-Accur: 1 % oder ±1 µm Funktionen: Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen. Mit zwei externen Messsonden zum leichten Erreichen schwer zugänglicher Messpunkte.

Specificaties

Ausführung 1,5 mm (konvex) / 25 mm (konkav)
Maße 131 * 65 * 28 mm
Typ TEFN
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